采用庫板單元組合，拆裝容易，可依客戶需要尺寸設計與配合往后客戶擴廠而遷移之方便

采用SUS#304不銹鋼板與彩鋼板，結構堅固，折裝方便，結構簡單，防水及美觀

采用天花板吹出型，減少試驗室內的風速對試樣的影響，同時能做到低風速高均勻度的要求

寬敞明亮之大窗口配高亮度室內防爆熒光燈，讓使用者可隨時觀測試驗箱內的狀況

冷凍系統采用歐美進口壓縮機，待測品電源與機臺安全保護、裝置均采用連控設計方式

全方位的安全保護裝置及停電記憶，確保機器本身及使用者安全。周全的保護裝置，當異常發生時，控制器熒幕即時切斷電源開關，自動顯示故障狀態，并提供故障排除方法

高效壓縮機與加熱系統可以實現快速溫度變化

采用HAITUO自主研發控制系統

微電腦智能控制，支持觸摸屏操作與多語言界面

多段程序編輯，支持復雜環境模擬

獨立過溫保護、漏電斷路等多重安全防護

不銹鋼內膽與防銹涂層，抗濕熱老化

符合GB11158；GB10589-89；IEC60068-2-1.1990GJB150.9等認證，滿足行業測試要求

擁有自主知識產權和外觀設計專利以及核心技術

控制器采用HAITUO自主研發控制系統

無需開/關箱門，被測試樣品可通過操作孔自如放入或取出

設備性能完善、人機對話功能簡便易操作

具有獨特的先進節能設計與巧匠工藝

冷凍系統與控制軟件的合理邏輯設計，確保整機的質量和性能

獨特的安全保護裝置設計，操作更安全

支持連續低溫穩定運行，采用免除霜設計，消除周期性除霜流程，提升測試效率及能效水平超30%

接觸式高低溫設備是海拓自主研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高低溫設備（熱流儀、溫箱等）相比具有升降溫效率高，操作簡單方便，體積小巧，噪音低等特點。

CTC溫度系統提供一種高度敏感，熱傳感路徑，快速感應溫度到DUT上。這種高可靠的系統使用一個專利的溫度探頭與被測的IC或其他器件直接連接，使用強力制冷技術進行溫度循環測試，不用擔心制冷能力不足。

CTC通過一個溫度探頭與過孔或表貼DUT直接連接，溫度加壓系統可以模擬DUT達到預計的溫度，范圍從-70℃～150℃。CTC通過一個熱盤，可以用來同時測量多個DUT。 它可以集成到探頭工作站、處理機、測試儀和系統。 CTC是一個獨立的、僅需通電即可操作的系統，只需要提供交流電和純凈的干燥空氣，用于低溫測試中防止冷凝的發生。

可以測試任何集成電路、單塊集成電路方面的 IC、芯片、微芯片、CPU、無線、高功率開關器件，包括硅晶圓和電子、半導體和電子器件。適合在電磁干擾環境下進行環境（高低溫）測試。

特點

加速壽命試驗機（HAST）廣泛應用于集成電路/微電子/IC等領域，其試驗目的是提高環境應力，如溫度與工作應力施加給產品的電壓/負荷等，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析被測試樣品何時出現的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障。分布函數呈現什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

特點

1. 高效的雙箱體設計，海拓先進的HAST設備集高溫高濕85℃85%RH、PCT、HAST功能于一體

2. 程式/定值模式可相互切換

3. 采用海拓研發訂制的控制器，彩色10寸LCD顯示屏內容豐富，具有多種功能

4. 圓型內箱,SUS316L不銹鋼（表面電解拋光）圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計

5.  packing 設計使門與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing 壽命

6. 獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞

7. 快速排氣模式，試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性

8. 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉 400 小時.

9.  內置的供水罐子，高效的自動供水系統，并確保測試后的熱水給內置冷卻箱冷卻后排出

10. 可連接Mes系統,讓可靠性測試納入客戶的工工藝制程中，也可同時接入海拓，運行歷史記錄存儲，數據更安全

11. 擁有自主的發明專利，專利號：ZL 2021 1 1559237.X